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    淺析X熒光光譜儀在檢測分析時采用的三種定律
    發布時間:2022-10-09 點擊:66

    近幾年,X熒光光譜儀被廣泛應用在多種領域,它可以對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析。那么你們知道X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律嗎?今天一起和小編來了解一下吧。

    1、莫塞萊定律

    臺式光譜儀發生故障時,特別是比較復雜的綜合性故障,對于解決這種故障應該先從比較容易解決的故障入手。

    2、布拉格定律

    該定律是一種可以反映晶體衍射基本關系的理論推導定律,同時,布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理,在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光完全分開,使譜線處理工作變得非常簡單,降低儀器檢出限。

    https://cxyq.imwsoft.cn/20221009082606-FoqdVhBG6midjw4If_fcEcCaofoE.png

    3、比爾-朗伯定律

    比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律,涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時,樣品可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要將混合的X射線按波長分開,分別測量不同波長的X射線強度,以進行定性和定量分析。

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