X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美。它可萃取玩具中重金屬含量測試(鉛、鎘、鉻、砷、銻、鋇、汞、硒等)、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結果精確度極高。 X熒光光譜儀還大大節省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。那么X熒光光譜儀在檢測重金屬方面起到了什么樣的作用呢？下面光譜儀廠家——創想儀器GLMY就給大家簡單的說明一下。

X熒光光譜儀的工作原理

X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。

此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。

X熒光光譜儀工作原理圖

?X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型X熒光光譜儀，以能量特征為原理的稱為能量色散型X熒光光譜儀。??

X熒光光譜分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

近年來，X熒光光譜儀在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在rohs檢測領域應用得最多也最廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

隨著視頻、化工、等質量安全問題引發人們的關注，各廠家企業以及消費者對于產品質量檢測也非常的關心。尤其是對于土壤以及視頻中重金屬檢測的重視，是的X熒光光譜儀也越來越受到關注。各種檢測儀尤其是X熒光光譜分析儀器對于分析重金屬有毒物質超標含量將會發揮很大的作用。